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產(chǎn)品名稱： Apreo掃描電鏡產(chǎn)品型號： TFE000050產(chǎn)品時間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific ™ Apreo SEM 地適用性，可以在短時間內(nèi)為材料研究人員提供成像質量。是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，其創(chuàng)新的末級透鏡設計，絲毫不會降低對磁性樣品的分辨能力。
產(chǎn)品介紹
靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠實現(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號的同時探測和高分辨率，而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的復合透鏡以進一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為 1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現(xiàn)*的信號過濾功能。擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時間內(nèi)獲得大量的采集信號。與其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在導航時、傾斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時，探測器的*性能尤為突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S復合末級透鏡通過能量過濾實現(xiàn)高質量的材料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有的軟件控制分割功能，以便根據(jù)需求選擇價值的樣品信息。
產(chǎn)品特點
• 全面實現(xiàn)納米或亞納米分辨性能，從納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。
• 的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度，即使是以低電壓和小束流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV速率成像是也不例外。
• 無比靈活的探測器 可將各個探測器分割提供的信息相結合，讓用戶能夠獲得至關重要的對比或信號強度。
• 各種各樣的荷電緩解策略 ，包括樣品倉壓力為 500 Pa的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。
• 分析平臺提供高電子束電流，而且束斑很小。倉室支持三個EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
• 樣品處理和導航極容易，具有多用途樣品支架和Nav-Cam+。
• 通過高級用戶指導、預設和撤消功能為新用戶提供專家級結果。
參數(shù)
電子束
• 電子束電流范圍: 1 pA–400 nA
• 加速電壓: 200 V–30 kV
• 著陸能量范圍: 20 eV–30 keV
• 大水平視場寬:10 mm工作距離下為3.0 mm（對應于小放大倍率 x29）
• 10mm分析工作距離 1kV 時電子束分辨率: 1nm
倉室
• 內(nèi)寬: 340 mm
• 分析工作距離: 10 mm
• 12個端口
• EDS 出射角度為35°
• 可同時安裝三個EDS 探測器, 兩個處于180°
• 共面的 EDS/EBSD 與樣品臺的傾斜軸垂直。
探測器
Apreo 通過可用探測器或探測器的分割部分的任意組合，多可同時探 測四個信號：
• Trinity 探測系統(tǒng) (透鏡內(nèi)和鏡筒內(nèi))
– T1 分割式透鏡內(nèi)低位探測器
– T2 透鏡內(nèi)高位探測器
– T3 鏡筒內(nèi)探測器*
• ETD – Everhart-Thornley SE 探測器
• DBS – 可伸縮分割式透鏡下 BSED*
• 低真空 SE 探測器*
• DBS-GAD – 安裝在透鏡上的氣體分析 BSED
• STEM 3+ – 可伸縮分割式探測器（BF、DF、HADF、HAADF)*
• IR-CCD
• Nav-Cam+ ™ –安裝在倉室內(nèi)的樣品導航攝像頭
真空系統(tǒng)
• *無油的真空系統(tǒng)
• 1 × 220 l/s TMP
• 1 × PVP-渦旋泵
• 2 × IGP
• 倉室真空（高真空）< 6.3 × 10-6 mbar（72 小時抽氣后）
• 抽氣時間：≤ 3.5 分鐘
• 可選的低真空模式
• 倉室壓力為 10 到 500 Pa
| 產(chǎn)品料號 | 產(chǎn)品貨號 | *產(chǎn)品名稱 | *產(chǎn)品規(guī)格 |
| TFE000050 | TFE000050 | Apreo掃描電鏡 | Apreo |
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